L. Ferrandi

	1997
1		Giacomo Buonanno, Fabrizio Ferrandi, L. Ferrandi, Franco Fummi, Donatella Sciuto: How an "Evolving" Fault Model Improves the Behavioral Test Generation. Great Lakes Symposium on VLSI 1997: 124-

Coauthor Index

1	Giacomo Buonanno	[1]
2	Fabrizio Ferrandi	[1]
3	Franco Fummi	[1]
4	Donatella Sciuto	[1]