José Ismael de la Rosa Vargas

José Ismael de la Rosa Vargas, Jesús Villa Hernández, Efrén González, Ovaldo Gutiérrez, Enrique de la Rosa: Bayesian entropy estimation: Applications in robust image filtering. CONIELECOMP 2012: 183-189

Jesús Villa Hernández, José Ismael de la Rosa Vargas, Enrique de la Rosa Miranda: Radial Basis Functions for Phase Unwrapping. Computación y Sistemas 14(2) (2010)

José Ismael de la Rosa Vargas, Gerardo Miramontes de León, Lyle E. McBride, J. de Jesus Villa, Gilles Fleury, Marie-Eve Davoust: A Statistical Inference Comparison for Measurement Estimation Using Stochastic Simulation Techniques. IEEE T. Instrumentation and Measurement 57(10): 2169-2180 (2008)

José Ismael de la Rosa Vargas: Convergencia de Estimadores a Mínimo de Entropía Robustos: Aplicaciones en Instrumentación y al PDS. Computación y Sistemas 10(2) (2006)

José Ismael de la Rosa Vargas, Gerardo Miramontes de León, Ernesto García Domínguez, Maria A. Esquivel, Jesús Villa Hernández: Comparación de Cuatro Algoritmos que dan Solución Numérica a la Deconvolución en Sistemas Monodimensionales. Computación y Sistemas 10(2) (2006)

José Ismael de la Rosa Vargas, Gilles Fleury, Sonia Esther Osuna, Marie-Eve Davoust: Markov chain Monte Carlo posterior density approximation for a groove-dimensioning purpose. IEEE T. Instrumentation and Measurement 55(1): 112-122 (2006)

José Ismael de la Rosa Vargas, Gilles Fleury: Bootstrap methods for a measurement estimation problem. IEEE T. Instrumentation and Measurement 55(3): 820-827 (2006)

Gerardo Miramontes de León, José Ismael de la Rosa Vargas, Ernesto García Domínguez: Application of an Annular/Sphere Search Algorithm for Speaker Recognition. CONIELECOMP 2005: 190-194

José Ismael de la Rosa Vargas: Convergence of Minimum-Entropy Robust Estimators: Applications in DSP and Instrumentation. CONIELECOMP 2004: 98-105

José Ismael de la Rosa Vargas, Gilles Fleury, Marie-Eve Davoust: Minimum-entropy, PDF approximation, and kernel selection for measurement estimation. IEEE T. Instrumentation and Measurement 52(4): 1009-1020 (2003)